美国TSI空气动力学粒径谱仪3321

美国TSI空气动力学粒径谱仪3321

产品介绍:

空气动力学粒径：APS 3321通过精密的飞行时间（TOF）技术可以实时测量粒子的空气动力学粒径。其粒径测量范围达0.5-20µm。由于基于飞行时间的空气动力学粒径计数仅仅与粒子形状相关。从而避免了折射系数和米散射仪器。此外，飞行时间测量粒径所具有的单调对曲线确保了在整个粒径测量范围内和高分辨率。

技术参数